前言
磁控濺射鍍膜屬于物理氣相沉積,離子在電場加速下高速轟擊陰極靶材,靶材原子被濺射出來后沉積到被鍍膜體表面而形成薄膜,是用來制備薄膜材料的一種主要方法[1]。它的基本原理是:真空環(huán)境中電場加速離子后形成具有高動能的離子束流,碰撞固體表面,固體表面的原子被濺射出并離開固體沉積在被鍍膜體表面,被離子高速碰撞的固體就是產(chǎn)生薄膜的來源,被稱之為濺射靶材[2]。濺射法是一種先進的薄膜材料制備技術(shù),這種方法具有速度高和溫度低兩大特點[3]。自20 世紀(jì)80 年代,信息存儲、集成電路、激光存儲器、液晶顯示器、電子控制器等產(chǎn)業(yè)開始進入高速發(fā)展時期,磁控濺射技術(shù)才從實驗室真正進入工業(yè)化規(guī)模生產(chǎn)[4]。我國已經(jīng)逐漸成為薄膜靶材需求大國,在全球市場需求的拉動下,
我國有很多材料領(lǐng)域的科研院所及企業(yè),開展了濺射靶材的研發(fā)和生產(chǎn)工作,并取得了很大的進展。
難熔金屬,一般包括鎢、鉭、鉬、鈮、鉿、鋯和鈦,其熔點都在1 600 益以上。鎢、鉬等合金材料高溫強度和蠕變性能好,被廣泛用于微電子,照明光源、武器系統(tǒng)、原子能等行業(yè)。鉭鈮極其合金具有較低蒸氣壓、低熱膨脹系數(shù)、優(yōu)秀的抗腐蝕性能,被廣泛用于航空航天、化工裝備、集成電路、核能部門[5]。將難熔金屬制作成靶材可將其優(yōu)秀性能以薄膜的形式利用。表1給出了幾種難熔金屬靶材的應(yīng)用領(lǐng)域。
1、難熔金屬靶材的類型及應(yīng)用
濺射用靶材有如下幾種分類方法:如按材質(zhì)分靶材可分為金屬靶、高分子陶瓷非金屬靶和復(fù)合材料靶等。如按外形尺寸可分為圓柱形、長方形、正方形板靶和管靶,見圖1。
因為一般常見的方靶圓靶都為實心,在鍍膜作業(yè)中,圓環(huán)形的永磁體在靶的表面產(chǎn)生的磁場為環(huán)形,會發(fā)生不均勻沖蝕現(xiàn)象,濺射的薄膜厚度均勻性不佳,靶材的使用效率大約只有20 %~30 %。而目前被推廣的空心管靶可繞固定的條狀磁鐵組件一定周期旋轉(zhuǎn)運動,360毅靶面可被均勻刻蝕,優(yōu)勢明顯,將利用率提高到80 %[6]。
1.1 鎢靶
鎢是難熔金屬熔點最高的一種,具有穩(wěn)定的高溫特性、抗電子遷移能力和較高的電子發(fā)射系數(shù)等諸多優(yōu)點。鎢及鎢合金靶在微電子、集成電路等行業(yè)中被大量使用。Al、Cu,Ag 目前是集成電路制造用得最多的互連線材料,一般來說介質(zhì)層是Si 或SiO2,Al、Cu,Ag 會向介質(zhì)中擴散而形成硅化物,從而使金屬連線的電流強度急劇變?nèi)酰麄€布線系統(tǒng)功能可能會因此而崩潰。最好的解決方案是在布線與介質(zhì)之間再進行屏蔽來阻擋擴散層,阻擋層金屬是WTi。
大量試驗證明,WTi 合金(Ti 占10 %~30 %)作為阻擋層已被成功地應(yīng)用于Al、Cu 和Ag 布線技術(shù)。由于金屬W在其他金屬中原子的擴散率較低,可阻擋擴散,Ti 可有效地阻止晶界擴散,另一方面也提高了阻擋層的黏結(jié)力和抗腐蝕性能[7-8]。
鎢靶還被應(yīng)用于裝飾鍍膜行業(yè),如手表、眼鏡、衛(wèi)生潔具、五金零件等產(chǎn)品,不僅能美化外觀,同時也具有抗磨損、腐蝕等功能。近些年來裝飾鍍膜用靶材的需求量日益擴大[9]。國內(nèi)研發(fā)W靶材的主要單位有上海鋼鐵研究所、北京安泰科技、西北有色金屬研究院、株洲硬質(zhì)合金集團等。
1.2 鉬靶
鉬具有高熔點、較低的比阻抗、高電導(dǎo)率、較好的耐腐蝕性而被廣泛用于LCD顯示屏、光伏電池中的配線、電極。還有集成電路的阻擋層材料。
金屬Cr 曾是LCD 顯示屏配線的首選材料,如今超大型、高精度LCD 顯示屏發(fā)展迅速,這對材料的比阻抗提出了更高的要求。此外,環(huán)境保護也必須兼顧。金屬Mo 的膜應(yīng)力的比阻抗只有鉻的一半,且不會污染環(huán)境,諸多優(yōu)勢使金屬Mo 成為LCD 顯示屏濺射靶材的最佳材料之一[10]。
銅銦鎵硒(簡稱“CIGS”)薄膜太陽電池是一種最具有發(fā)展前景的薄膜太陽能電池,具有光電轉(zhuǎn)換效率高、無衰退、性能穩(wěn)定、成本低廉等諸多優(yōu)點。在光伏領(lǐng)域,國內(nèi)外學(xué)者們對CIGS 產(chǎn)生了極大的關(guān)注。CIGS 薄膜太陽能電池的第五層就是背電極,電池的性能受背電極材料直接影響。Mo濺射的薄膜熱穩(wěn)定性良好、電阻率較低、還能與CIGS 層結(jié)合形成良好的歐姆接觸。同時金屬Mo 薄膜還具有與上下玻璃層和CIGS 近似的熱膨脹系數(shù)等特點,已成為薄膜太陽電池背電極的必選材料[11]。圖2 是Mo 在薄膜太陽能電池中的位置[5]。近些年來,全球的太陽能電池需求量激增,每年遞增40 %以上。據(jù)報道,目前世界薄膜太陽能電池年發(fā)電總量約為660 MW[10]。國內(nèi)研發(fā)Mo 靶的主要單位有金堆城鉬業(yè)、北京安泰科技、洛陽高新四豐等。安泰科技公司采用壓制-燒結(jié)-熱等靜壓法制備的了大量鉬及其合金靶材,相對密度逸99 %[12]。
1.3 鉭靶
當(dāng)大規(guī)模集成電路進入到深亞微米時代時,Al線對應(yīng)力遷移和電遷移的抵抗能力相對較弱,這將造成布線空洞,導(dǎo)致電路系統(tǒng)完全失效。因此,金屬Cu 布線將成為主流。Cu 比Al 具有更高的抗電遷移能力和更低的電阻率,這意味著更小、更密集的連線可以承載更強的電流。低電阻提高了芯片速度。目前全球130 nm、90 nm 及以下的器件生產(chǎn)商已經(jīng)采用
Cu 互連工藝,Ta成為Cu 互連的阻擋層。目前,超大規(guī)模集成電路已逐漸發(fā)展為Cu/Ta 系[13-14]。因為Cu和Si 的化學(xué)活性高,擴散速度快,易形成銅硅合金(Cu-Si),銅在硅中形成深的空穴,設(shè)備的性能被嚴(yán)重影響,最終導(dǎo)致系統(tǒng)失效。Ta 及Ta的化合物具有高熱穩(wěn)定性、高導(dǎo)電性和對外來原子的阻擋作用。
Cu 和Ta 以及Cu 和N 之間不反應(yīng),不擴散形成化合物,因此Ta 和Ta基膜成為阻擋層可有效防止銅的擴散[15]。
我國Ta 儲量資源豐富,但在過去對半導(dǎo)體濺射靶材缺乏最基本的認識,從而限制了高純Ta 靶材的技術(shù)發(fā)展。在很長一段時間內(nèi),我國生產(chǎn)濺射靶材用的高純Ta 原料主要依賴進口。寧夏東方鉭業(yè)通過多年研發(fā),掌握了高純Ta 濺射靶材原料生產(chǎn)工藝方法,填補了國內(nèi)空白。寧波江豐電子材料股份有限公司也生產(chǎn)出了300 mm高純Ta 濺射靶材[14]。西安諾博爾稀貴金屬公司也掌握高純Ta 靶的生產(chǎn)工藝[16]。
1.4 鈮靶
近些年,光電技術(shù)的發(fā)展迅速,Nb 薄膜材料已廣泛應(yīng)用于與人們現(xiàn)代生活密切相關(guān)的LCD、TFT等離子顯示屏、相機鏡頭鍍膜、光學(xué)鏡頭鍍膜、汽車和建筑工業(yè)用玻璃的制造中[17]。鈮靶材還用于表面工程材料,如化工耐腐蝕、船舶、耐熱、電子成像、信息儲存、高導(dǎo)電等鍍膜行業(yè)[18]。由于高的利用率,旋轉(zhuǎn)空心圓管磁控濺射靶目前在業(yè)內(nèi)得到廣泛推廣,鈮管靶主要應(yīng)用于平面顯示器、先進觸控屏和節(jié)能玻璃的表面鍍膜等行業(yè),對玻璃屏幕起抗反射作用[19]。
我國研發(fā)Nb靶的主要單位有寧夏東方鉭業(yè)、西北有色金屬研究院等。據(jù)筆者了解,寶雞佳軍公司通過熔煉擠壓方式生產(chǎn)出了外徑152mm,內(nèi)徑125mm,長度為3 900 mm 的大2、靶材的技術(shù)要求
為了確保沉積薄膜的質(zhì)量和提高濺射效率,靶材的品質(zhì)成為關(guān)鍵因素。經(jīng)過國內(nèi)外大量研究得出,對濺射靶材質(zhì)量影響最大的幾個因素分別為:純凈度、致密度、尺寸精度、晶粒度、織構(gòu)等。
2.1 純度
濺射靶材的純度是影響鍍膜效果的首要因素。靶材中的雜質(zhì)和氣孔中的氧和水分是沉積薄膜的主要污染源。要提高濺射薄膜的性能,就應(yīng)盡可能降低靶材中雜質(zhì)含量,提高純度,減少污染源,提高沉積薄膜的均勻性[2]。不同應(yīng)用領(lǐng)域的靶材對純度要求不同,普通鍍膜用靶材要求純度達到99 %以上即能滿足要求。對靶材純度要求較為苛刻的是微電子、顯
示器等領(lǐng)域用,需要至少分析40 個以上的雜質(zhì)元素,純度為99.95 %(3N5)以上方可使用[20]。
2.2 致密度
濺射靶材的內(nèi)部如不是非常致密,或存積氣體,那么在濺射過程中氣體釋放將會產(chǎn)生微粒直接影響鍍膜質(zhì)量。氣孔同時會導(dǎo)致濺射時產(chǎn)生不正常放電,而產(chǎn)生雜質(zhì)粒子。為了保證薄膜的質(zhì)量和性能,必須使濺射靶材的致密度要達到較高水平。靶材致密度越高,其導(dǎo)電、導(dǎo)熱性越好,強度越高等。高致密度靶材鍍膜有諸多優(yōu)點:靶材使用壽命長,濺射功率小,成膜速率高,薄膜不易開裂,透光率高。
2.3 微觀組織
濺射速度直接受晶粒尺寸的影響,晶粒粗大靶材的濺射速率要比晶粒細小的靶材慢很多,晶粒尺寸變小,薄膜沉積速率增大。而同一塊靶材的晶粒尺寸整體差異較小,沉積薄膜的厚度分布就更為均勻。金堆城鉬業(yè)研發(fā)的鉬靶材平均晶粒尺寸達到50 滋m,屬國內(nèi)領(lǐng)先水平[21]。一般情況下,因為變形量等因素影響,平面靶的晶粒尺寸比管狀靶材更容易細小、均勻。
當(dāng)靶材在濺射時,其原子會沿著六方密排面優(yōu)先濺射出來,因此,為了提高濺射鍍膜速率,可以盡可能調(diào)整靶材結(jié)構(gòu)使具有一定的晶體取向。在晶粒尺寸合適的范圍內(nèi),晶粒取向越均勻越好。靶材晶粒取向還會對薄膜的厚度、均勻性都會產(chǎn)生較大影響。
要使靶材的微觀組織具有一定的結(jié)晶取向,就要根據(jù)靶材金屬的微觀組織特征,采用不同的壓力加工方式,再結(jié)合適當(dāng)?shù)臒崽幚磉M行調(diào)整和控制。國內(nèi)許多單位已對不同加工方式對結(jié)晶取向的影響做了大量研究。
2.4 尺寸精度
濺射靶材在后期裝配前要進行一系列機械加工,其加工質(zhì)量和精度(平面度,直線度,粗糙度)也會影響到薄膜性能。靶材濺射作業(yè)前必須與鋁或無氧銅底盤(背板)連接在一起,配合緊密才能使靶材與背板更好的導(dǎo)電導(dǎo)熱。裝配完畢后要使用超聲波檢測,如果兩者的空隙區(qū)域小于總接觸面的2 %,這樣才能在大功率濺射中使用[10]。同樣的尺寸精度要求下,管狀靶材的機加工難度要大于平面靶材,因為大型管靶一般都采用擠壓成型,內(nèi)孔有較深的擠壓溝槽,這對機加造成了較大困難。業(yè)內(nèi)一般采用高精度數(shù)控深孔鉆鏜床來加工內(nèi)孔。
3、難熔金屬靶材的制備技術(shù)
難熔金屬濺射靶材的制備方法主要分為粉末冶金法和熔煉法,其中W、Mo多采用粉末冶金,而Ta、Nb 多采用熔煉法生產(chǎn),具體工藝流程見圖3。
3.1 粉末冶金法
粉末冶金法是適合制作難熔金屬濺射靶材的傳統(tǒng)方法。難熔金屬熔點很高,該方法采用固\ 液相燒結(jié),所以在遠低于其熔點的溫度下使其成型;生產(chǎn)合金靶材時,兩種或兩種以上的合金粉末通過混料機長時間混合均勻后加熱壓制,有效地杜絕了合金組元的偏析。另外一大優(yōu)點是粉末冶金法制備的靶材晶粒較細,可達到100 滋m以下。一般粉末冶金法制
備的濺射靶材多采用冷等靜壓加燒結(jié)、熱壓燒結(jié)和熱等靜壓三種方式。其中熱等靜壓得到的致密度最高,前兩種方法得到的靶材致密度則相對較低。因此提高粉末冶金燒結(jié)法制備靶材致密度是必須解決的關(guān)鍵技術(shù)之一。通過壓力加工可有效改善粉末冶金靶材的致密度低的問題。魏修宇[7]研究了軋制變形量對粉末冶金鎢靶材致密度的影響,隨著變形增
大,致密度增加,最高可達99.5 %以上。朱琦[22]研究了擠壓對粉末冶金鉬管靶組織、性能以及致密度的影響,使鉬管靶密度從燒結(jié)坯的9.8 g/cm3 增加到10.15 g/cm3,達到了高致密度的要求。
鎢、鉬濺射靶材大多采用粉末冶金方法制備,由于粉末冶金的提純能力有限,因此原料必須為高純粉末,另外在制備過程還要嚴(yán)格控制雜質(zhì)元素的混入。目前國內(nèi)高純金屬的提純技術(shù)與工業(yè)發(fā)達國家的差距較大。郭讓民[23]將仲鎢酸銨重新氨溶中和,活性炭吸附結(jié)晶提純,再經(jīng)還原后制備出高純W粉,可有效地深度去除雜質(zhì),純度達99.99%以上。
3.2 熔煉法
熔煉法是制備難熔金屬靶材另一種重要的方法,因為難熔金屬的具有高熔點,多采用電子束、電弧熔煉。電子束熔煉具有高溫、高升溫速率、高真空等優(yōu)點,適合提純精煉各種難熔金屬。電子束熔煉得到的金屬鑄錠致密,內(nèi)部組織無孔隙、氣孔,非常接近理論密度。但電子束熔煉有兩大缺點:一是鑄錠晶粒粗大;二是熔煉合金時對于組元蒸氣壓相差較大
情況下,會發(fā)生偏析現(xiàn)象。電弧熔煉適合熔煉合金,其鑄錠致密度也非常高,但提純效果不及電子束熔煉。由于熔煉法得到的靶材晶粒粗大,通過壓力加工和熱處理可使晶粒變細,并得到一定晶粒取向的組織。劉寧[14]研究了鉭靶中{110}、{100} 、{111}三種織構(gòu)的濺射速率關(guān)系,提出采用熱鍛造強塑性變形工藝對Ta 靶進行加工,使其具有更均勻的織構(gòu)組分。
宜楠[13]通過對電子束熔煉、鍛造、軋制、熱處理等關(guān)鍵工藝進行優(yōu)化調(diào)整,獲得了織構(gòu)以{111}型為主晶粒尺寸小于100 滋m性能優(yōu)良的鉭靶。王國棟[17]研究了電子束熔煉的高純鈮錠在加熱1 100 益高溫鐓造再通過換向軋制制備的Nb 靶材,其晶粒取向一致,晶粒大小分布均勻。筆者對純Nb 板靶材也進行了一系列試驗。電子束熔煉的粗大晶粒純Nb 鑄錠通過鍛造、退火、再經(jīng)60 %變形量的軋制,再進行約1 200 益左右的成品退火得到7.5 級晶粒度(平均晶粒數(shù)為1 400 個/mm2),組織均勻、性能優(yōu)良的純Nb靶材。
4 、結(jié)語
近些年來,我國研究生產(chǎn)濺射靶材的單位企業(yè)在制備技術(shù)、產(chǎn)品品種等方面都有非常大的進步。打破了高端靶材長期依賴進口的局面。研發(fā)生產(chǎn)靶材的中小型民營企業(yè)也取得了很大成果。薄膜市場需求的快速發(fā)展,濺射靶材品種要求也越來越多,加速了更新?lián)Q代周期,傳統(tǒng)工藝也慢慢不能滿足要求,需要對工藝進行優(yōu)化和革新。今后的發(fā)展方向是要引
入新方法新工藝來解決靶材在濺射過程中微粒飛濺、利用率和導(dǎo)磁率等問題。靶材的目的是濺鍍薄膜,只研究靶材遠遠不夠,需要將靶材與薄膜兩種研究結(jié)合起來,努力促進靶材制備技術(shù)的革新與發(fā)展。
參考文獻:
[1] 陳海峰,薛瑩潔.國內(nèi)外磁控濺射靶材的研究進展[J].表面技術(shù),2016,45(10):56-63.
CHEN Haifeng,XUE Yingjie. Research progress of magnetronsputtering target at home and abroad [J]. Surface Technology,2016,45(10):56-63.
[2] 劉志堅,陳遠星,黃偉嘉,等. 濺射靶材的應(yīng)用及制備初探[J].南方金屬,2003(6):23-24.
LIU Zhijian,CHEN Yuanxing,HUANG Weijia,et al.Manufactureand application of sputtering target materials [J].Southern Metals,2003(6):23-24.
[3] 金永中,劉東亮,陳建.濺射靶材的制備及應(yīng)用研究[J].四川理工學(xué)院學(xué)報(自然科學(xué)版),2005,18(3):22-24.
JINYongzhong,LIUDongliang,CHENJian.Studying on manufactureand application of sputtering target materials [J].Journal of SichuanUniversity of Science & Engineering (Natural Science Edition),2005,18(3):22-24.
[4] 儲志強.國內(nèi)外磁控濺射靶材的現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢[J].金屬材料與冶金工程,2011(4):44-49.
CHU Zhiqiang. The present status and development trend of mag netron sputtering target at home and abroad[J]. Metal Materials and Metallurgy Engineering,2011(4):44-49.
[5] 殷為宏,湯慧萍.難熔金屬材料與工程應(yīng)用[M].北京:冶金工業(yè)出版社,2012:253.
[6] 王大勇,顧小龍.靶材制備研究現(xiàn)狀及研發(fā)趨勢[J].浙江冶金,2007(4):1-9.
WANG Dayong,GU Xiaolong. Research Status and DevelopmentTrend of Target Preparation [J]. Journal of Zhejiang Metallurgy,2007(4):1-9.
[7] 魏修宇.半導(dǎo)體用高純鎢靶材的制備技術(shù)與應(yīng)用[J].硬質(zhì)合金,2017,34(5):353-359.
WEI Xiuyu.Preparation technology and application of high puritytungsten target for semiconductor [J].Cemented Carbide,2017,34(5):353-359.
[8] 尚再艷,江軒,李勇軍,等.集成電路制造用濺射靶材[J].稀有金屬,2016,29(4):475-477.
SHANG Zaiyan,JIANG Xuan,LI Yongjun,et al. Sputtering targetsused in integrated circuit [J]. Chinese Journal of Rare Metals,2016,29(4):475-477.
[9] 遲偉光,張鳳戈,王鐵軍,等.濺射靶材的應(yīng)用及發(fā)展前景[J].新材料產(chǎn)業(yè),2010(11):6-11.
CHI Weiguang,ZHANG Fengge,WANG Tiejun,et al.Applicationanddevelopmentprospectofsputteringtargets[J].AdvancedMaterialsIndustry,2010(11):6-11.
[10] 安耿,李晶,劉仁智,等.鉬濺射靶材的應(yīng)用、制備及發(fā)展[J].中國鉬業(yè),2011,35(2):45-48.
AN Geng,LI Jing,LIU Renzhi,et al. The application,manufacture原anddeveloping trend ofmolybdenum sputtering target [J]. ChinaMolybdenumIndustry,2011,35(2):45-48.
[11] 沈曉月. 磁控濺射法制備CIGS 薄膜光伏電池Mo 背電極的研究[D].大連:大連工業(yè)大學(xué),2013.
SHEN Xiaoyue. Study on Mo back electrode of CIGS thin filmphotovoltaic cells prepared by magnetron sputtering [D]. Dalian:Dalian Polytechnic University,2013.
[12] 安泰科技股份有限公司.高純度、高致密度、大尺寸鉬合金靶材的制備方法:CN105525260A[P]. 2013-09-25.
[13] 宜楠,權(quán)振興,趙鴻磊,等.集成電路用鉭濺射靶材制備工藝研究[J].材料開發(fā)與應(yīng)用,2016,31(3):71-75.
YI Nan,QUAN Zhenxing,ZHAO Honglei,et al. Research onprocessing of tantalum target for sputtering to LSIS[J]. Developmentand Application of Materials,2016,31(3):71-75.
[14] 劉寧,楊輝,姚力軍,等.集成電路用大尺寸高純鉭靶材的制備工藝進展[J].集成電路應(yīng)用,2018,35(2):24-28.
LIU Ning,YANG Hui,YAO Lijun,et al.The progresses onfabrication of large size high-purity tantalum targets for integratedcircuits[J]. Applications of IC,2018,35(2):24-28.
[15] 潘倫桃,李彬,鄭愛國,等.鉭在集成電路中的應(yīng)用[J].稀有金屬,2003,27(1):28-34.
PAN Luntao,LI Bin,ZHENG Aiguo,et al. Application of tantalumto LSIC[J].Chinese Journal of Rare Metals,2003,27(1):28-34.
[16] 郝小雷. 組織均勻鉭濺射靶材的制備現(xiàn)狀[J]. 山東工業(yè)技術(shù),2017(18):63-63.
HAO Xiaolei. Preparation status of tissue homogeneous tantalumsputtering targets [J].Shandong Industrial Technology,2017(18):63-63.
[17] 王國棟,王艷,李高林,等.濺射用優(yōu)質(zhì)鈮靶材的制備[J].稀有金屬材料與工程,2008(4):533-536.
WANGGuodong,WANGYan,LIGaolin,etal.Processingofniobiumtarget for sputting [J]. Rare Metal Materials and Engineering,2008(4):533-536.
[18] 李兆博,張春恒,李桂鵬,等.濺射鍍膜用鈮靶材晶粒尺寸控制工藝研究[J]. 材料開發(fā)與應(yīng)用,2010,25(6):33-35.
LI Zhaobo,ZHANG Chunheng,LI Guipeng,et al. Research ongrain size controlling process of niobium target used for sputteringand coating[J]. Development and Application of Materials,2010,25(6):33-35.
[19] 張國軍,汪凱,李桂鵬,等.旋轉(zhuǎn)鍍膜鈮靶材加工工藝研究[J].材料開發(fā)與應(yīng)用,2014,29(6):54-57.
ZHANG GuoJun,WANG Kai,LI Guipeng,et al. Processing technology of spin coating process niobium target [J]. Development andApplication of Materials,2014,29(6):54-57.
[20] 賈國斌,馮寅楠,賈英.磁控濺射用難熔金屬靶材制作、應(yīng)用與發(fā)展[J].金屬功能材料,2016,23(6):48-52.
JIA Guobin,F(xiàn)ENG Yinnan,JIA Ying.Manufacture,application anddevelopment of refractory metal target used on magnetron sputtering[J]. Metallic Functional Materials,2016,23(6):48-52.
[21] 楊帆,王快社,胡平,等.高純鉬濺射靶材的研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢[J].熱加工工藝,2013(24):10-12.
YANG Fan,WANG Kuaishe,HU Ping,et al. Research status anddevelopment trend of high purity molybdenum sputtering targetmaterial[J]. Hot Working Technology,2013(24):10-12.
[22] 朱琦,王林,楊秦莉,等.鉬管靶材的擠壓理論與組織性能分析[J].中國鉬業(yè),2014(4):50-53.
ZHU Qi,WANG Lin,YANG Qinli,et al. Extrusion theory andanalysis on microstructure and properties of molybdenum tubetarget[J]. China MolybdenumIndustry,2014(4):50-53.
[23] 郭讓民.高純鎢濺射靶材制取工藝研究[J].中國鉬業(yè),1997(增刊1):39-41.
GUORangmin. Study on preparation of high pure tungsten materials[J]. China MolybdenumIndustry,1997(supply1):39-41.
相關(guān)鏈接